Монокристальный дифрактометр XtaLAB Synergy-S с микрофокусным источником и системами термостатирования образца
Монокристальный дифрактометр c?микрофокусным источником рентгеновского излучения, высокоскоростным детектором и?с?контролируемым нагревом изучаемого кристалла до?1000 °С?позволяет расшифровывать атомное строение новых материалов и?минералов при экстремальных температурных условиях. Как это ни?удивительно, но?до?сих пор подобные исследования в?мире были ограничены температурой 350 °С.?Новый прибор позволит придать дифракционному пространству дополнительное температурное ?измерение?, что даст возможность моделировать поведение материалов в?условиях, отличающихся от?стандартных лабораторных, позволит получить возможность решения принципиально новых задач, требующих сочетания высокого разрешения с?нестандартными условиями. Дифрактометр позволит исследовать пределы термической устойчивости новых веществ, а?также моделировать условия природных высокотемпературных процессов.